常規我們二次元都是對二維平面尺寸的產品檢測，但在日常工業中不少客戶單獨二維平面尺寸的測量無法滿足要求，還需要對產品臺階、深度的一個檢測，而買一臺三坐標又過于的昂貴，基于多方因素市場上研發出2.5D光學測量以滿足相關客戶的特殊需求：市場上推出的2.5次元影像儀分為兩類產品，第一類是光學對焦測高型2.5次元影像測量儀，第二類是探針輔助測高型二次元，客戶可以根據自身產品特點選擇最適合測量的相關產品。
2.5次元影像測量儀主要優點
采用“HIWIN”P級直線導軌和精密V型滾珠導軌,保證機器精度及使用壽命。
立柱和底座采用堅實的花崗巖結構、穩定可靠。
配備多功能2.5D測量軟件，自動尋邊,影像測高。
配備可移動可拆卸的儀器專用桌。
高清卡位變倍鏡頭和高分辯率CCD,實現產品高清晰度測量。
測量結果可輸出Word 、Excel、CAD等格式。
可導入DXF文件進行快速檢測。
型號 XVM-2010F XVM-3020F XVM-4030F
測量范圍(mm) 200x100x200 300x200x200 400x300x200
外型尺寸(mm) 750*1300*1500mm 750*1300*1500mm 900*1400*1500mm
重量(kg) 160 170 250
承重(kg) 20 25 25
備注：客戶可根據自身產品需求選配英國Renishaw MCP探針接觸式測高功能
測量精度(μm): 3+L/200
重復精度（mm）:0.003
測量方式：影像
光柵尺: 1.0μm分辯率開放式玻璃光柵尺
圖像傳感器CCD: HC536 1/3英寸600線工業彩色相機
導軌: Z軸：“HIWIN”P級直線導軌 X、 Y軸：精密V型導軌
光學系統: 6.5:1連續變倍卡位鏡筒
放大倍率: 光學放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
軟件: 自動2.5D測量軟件